• <menu id="qseaa"><tt id="qseaa"></tt></menu><nav id="qseaa"><tt id="qseaa"></tt></nav>
    <optgroup id="qseaa"><tt id="qseaa"></tt></optgroup>
  • <object id="qseaa"><acronym id="qseaa"></acronym></object><input id="qseaa"></input>
    <menu id="qseaa"></menu>
  • <nav id="qseaa"><u id="qseaa"></u></nav>
  • <object id="qseaa"></object>
  • <input id="qseaa"></input><menu id="qseaa"></menu>
  • <s id="qseaa"></s>
  • <menu id="qseaa"><u id="qseaa"></u></menu>
  • <input id="qseaa"></input>
    ACS880-07C
    關注中國自動化產業發展的先行者!
    CAIAC 2025
    2024
    工業智能邊緣計算2024年會
    2023年工業安全大會
    OICT公益講堂
    當前位置:首頁 >> 案例 >> 案例首頁

    案例頻道

    大束流離子注入機顆粒改善
    • 企業:    
    • 點擊數:1222     發布時間:2018-07-28 19:06:15
    • 分享到:

    作者:楊怡,陳果(杭州士蘭集昕微電子有限公司,浙江 杭州 310000)

    摘要:大束流離子注入機是半導體行業中一種十分重要的設備,在生產過程中,影響注入機產品良率和產能的關鍵因素是顆粒的多少。大束流離子注入機采用靶盤式結構,腔體空間大,腔體內真空度相較于中束流離子注入機低,束流路徑大,因此產生顆粒的幾率更大。本文先分析了大束流離子注入機顆粒產生的原因,然后提出了氣體傳導率限制縫和鋸齒石墨兩種減少顆粒的結構設計,并進行了實驗驗證,最后給出了顆粒偏高后查找顆粒源的幾種方法。

    關鍵詞:離子注入機;顆粒減少;氣體傳導率限制縫;鋸齒石墨;顆粒源

    在線預覽:大束流離子注入機顆粒改善

    摘自《自動化博覽》2018年7月刊

    熱點新聞

    推薦產品

    x
    • 在線反饋
    1.我有以下需求:



    2.詳細的需求:
    姓名:
    單位:
    電話:
    郵件:
  • <menu id="qseaa"><tt id="qseaa"></tt></menu><nav id="qseaa"><tt id="qseaa"></tt></nav>
    <optgroup id="qseaa"><tt id="qseaa"></tt></optgroup>
  • <object id="qseaa"><acronym id="qseaa"></acronym></object><input id="qseaa"></input>
    <menu id="qseaa"></menu>
  • <nav id="qseaa"><u id="qseaa"></u></nav>
  • <object id="qseaa"></object>
  • <input id="qseaa"></input><menu id="qseaa"></menu>
  • <s id="qseaa"></s>
  • <menu id="qseaa"><u id="qseaa"></u></menu>
  • <input id="qseaa"></input>
    啊灬啊灬啊灬快灬深用力试看