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PXI Express測試儀器與實驗芯片相連接的測試平臺
"我們已使用PXI Express自動測試系統完成多個項目，并獲得非常滿意的效果。自動測試系統大大減少了芯片測試的時間，而其快速、準確的直流測試更是實驗室的寶貴財富。"
- Mario Konijnenburg, Holst Centre/imec
The Challenge:
創建靈活的測試系統用于自動驗證和表征新的超低功耗半導體芯片設計。
The Solution:
使用NI LabVIEW軟件和NI PXI Express高速數字I/O設備開發自動測試系統，前者讀取測試向量，后者產生和接收數字數據，并同時以很高的精度測量芯片設計的直流損耗。
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